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金兆益掌握AMC 聚焦智慧廠務
2026/09/11 下一則
  金兆益科技於2026 SEMICON Taiwan發布「掌握AMC:智慧廠務的現在與未來」議題,由資深業務經理暨AMC產品經理詹東憲分享先進製程微污染管理趨勢,並以新世代NFA-Quantum智慧AMC監測系統為核心,推動微污染管理從事後分析走向即時監測與主動預警。

  傳統潔淨室HEPA/ULPA濾網主要攔截固態懸浮微粒,對氣相分子污染物(AMC)無法有效攔截。這些污染物可在潔淨室、EFEM、FOUP等微環境快速擴散,並吸附於矽或金屬表面,進入DUV、EUV微影與先進薄膜製程後,即使極微量污染,也可能造成光阻圖案異常、光學元件霧化,以及金屬互連與Pad腐蝕,進而影響製程穩定與良率。

  金兆益此次提出全廠區常態監測、漏源輔助查找及特定區域目標偵查三大AMC應用架構,從廠區環境一路深入設備與製程端。

  其中NFA-Quantum整合GC-MS+IC,可針對MA、MB及VOCs進行多物種同步定性、定量與未知物解析,並結合AI自動化監測,未來AMC管理不只是「發現污染」,更要在晶圓大量異常前找出污染源,讓微污染數據成為智慧廠務守住先進製程良率的重要防線。
  
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